Lambda-X NIMO是專為光學鏡片開發的功能強大的專用面型測量分析儀器，利用其獨有的核心計算方法，經過第二代的創新和設計，可測量現階段最先進的近視防控鏡片：陣列透鏡（微透鏡）離焦近視防控鏡片。

Lambda-X Nimo可測量和觀測：

· 可測量微透鏡的環裝帶區域平均度數。

· 可測量中間非微透鏡區域平均度數以及區域大小

· 可測量單個透鏡的中間度數和周圍臨近透鏡的度數變化

· 可對有效直線區域的多個陣列透鏡進行系統分析，其透鏡中心和邊緣的度數變化

· 可分析中心區域度數與微透鏡中心度數的離焦量差值。

Lambda-X Nimo的產品優勢：

· 現階段唯一 一臺可真實測量1mm微透鏡的光學面型分析儀。

· 可系統的對單個透鏡進行光學測量，其SPH,CYL,AXIS等數據。

· 可自由設定環裝帶直徑大小，用于分析各種類型的微透鏡光學設計。

· 現階段已經廣泛被應用于國內外檢測機構，學術機構以及鏡片生產企業。

主機參數：

· 測量區域：最大18mm*18mm  最小0.5mm*0.5mm

· 測量范圍：+/- 30D

· 測量精度：0.001D/0.01D/0.06D/0.12D

· 輸入：220VAC 2A

測量軟件參數：Lambda-X專用光學分析軟件

不同類型的微透鏡設計：

整個鏡片中心區域度數分析：

單個微透鏡測量分析：